更新日: 2022年3月4日
目次
宮城県産業技術総合センターで可能な評価内容の一例
| 評価 | 項目 | 評価内容 | 装置 |
|---|---|---|---|
| 接点調査 | 表面観察組織観察定性，定量分析異物分析 | SEM，デジタルマイクロスコープ等による観察及び分析機器による表面，界面の状態調査 | デジタルマイクロスコープ，SEM，EPMA，X線光電子分光装置（XPS），FT-IR，XRF，X線CT等 |
| 電気的性能 | 絶縁，接触抵抗耐電圧温度上昇 | インピーダンス測定装置等による電気特性評価及び温度計測 | オシロスコープ，耐電圧試験機，インピーダンスアナライザ等 |
| 機械的性能 | 引抜き・挿入力振動・衝撃端子引張・曲げ強度 | 引張圧縮試験機，振動試験機等によるコンタクト，シェルの強度調査 | 引張圧縮試験機，振動試験機，衝撃試験機等 |
| 信頼性評価 | 高温試験温度サイクル試験低温試験熱衝撃試験耐候性試験 | 加速劣化試験による接合強度及びハンダ組織，接合界面の経時変化の評価 | 恒温槽，熱衝撃試験機，耐候性試験機，SEM，X線CT |
電気接点部品の不具合解析
- ハウジングの嵌合は適切か？
- コンタクトは正常か？
- カシメのダイは適切か？
- 配線の断線はないか？
- 異常がないことを証明することは難しい
- 複数の不具合が同時に見つかった場合，どれが一次要因か見極めることは難しい
不具合原因が同定されることは少ない
電気接点部品の不具合解析例（１）
不具合で戻ってきたコネクタ製品に接触不良が見られる
| 評価 | 項目 | 評価内容 | 装置 |
|---|---|---|---|
| 接点調査 | 非破壊検査 | 嵌合状態の観察 | X線CT |
| 表面観察 | 表面の異常調査 | デジタルマイクロスコープ | |
| 断面観察 | メッキ厚の評価 | 埋込，断面研磨，イオンエッチング，デジタルマイクロスコープ | |
| 定性，定量分析 | 不具合品と良品のメッキ及び素地の定性，定量分析 | XRF | |
| 電気的性能 | 絶縁，接触抵抗 | 四端子法による直流抵抗測定 | デジタルマルチメータ |
電気接点部品の不具合解析例（２）
リレー接点が出荷後，短期間で故障した
| 評価 | 項目 | 評価内容 | 装置 |
|---|---|---|---|
| 接点調査 | 表面解析 | 表面の異常調査 | デジタルマイクロスコープ，SEM |
| 断面観察 | メッキ厚の評価 | 埋込，断面研磨，イオンエッチング，デジタルマイクロスコープ | |
| 定性，定量分析 | 不具合品と良品のメッキ及び素地の定性，定量分析 | XRF，EPMA，X線光電子分光装置（XPS） |
電気接点部品の不具合解析例（３）
コネクターの引き抜き力が規定値より低い不具合品が発生した
| 評価 | 項目 | 評価内容 | 装置 |
|---|---|---|---|
| 接点調査 | 非破壊検査 | 嵌合状態の観察 | X線CT |
| 表面観察 | コネクタ表面の接触状態観察 ハウジングの嵌合部の観察 |
デジタルマイクロスコープ | |
| 機械的性能 | 引抜き | 変位－荷重曲線測定 | 引張圧縮試験機 |
電気接点部品の不具合解析例（４）
端子板の温度が設計値より高い
| 評価 | 項目 | 評価内容 | 装置 |
|---|---|---|---|
| 電気的性能 | 全抵抗 | 定格適合電線接続時の全抵抗 | 恒温室，デジタルマルチメータ，電流源 |
| 温度上昇 | 定格適合電線接続時の最高到達温度 | 恒温室，データロガー，電流源 | |
| 構造解析 | 熱流体解析 | 温度を下げるための構造の見直し | 熱流体解析シミュレータ |
電気接点部品の不具合解析例（５）
接点のメッキののりが悪い
| 評価 | 項目 | 評価内容 | 装置 |
|---|---|---|---|
| 接点調査 | 表面観察 | 表面の異常調査 | デジタルマイクロスコープ |
| 表面分析 | メッキ厚の評価 | 埋込，断面研磨，イオンエッチング，デジタルマイクロスコープ | |
| 表面分析 | 不具合品と良品のメッキ及び素地の定性，定量分析 | XRF，FT-IR，X線光電子分光装置（XPS） |