説明
用途
- Sパラメータ測定、シールド特性評価が可能。
スペック・付属品等
- 周波数：9 kHz ～ 8.5 GHz
- 治具使用で下記のシールド特性評価が可能。
| 測定方式 | スペック |
| アドバンテスト法 | 周波数 ：50MHz～1GHz 試料形状：板状（150mm×50mm 厚さ5mm以下） 治具型番：TR17302(アドバンテスト社製) |
| KEC法① | 周波数 ：100kHz～1GHz 試料形状：板状（120 mm×150mm程度 厚さ5 mm以下） 測定種類：電界測定、磁界測定 治具型番：JSE-KEC(日本シールドエンクロージャー製) |
| KEC法② | 周波数 ：1GHz～6GHz 試料形状：板状（30～50mm角 厚さ1mm以下） 治具型番：JSE-KEC6G(日本シールドエンクロージャー製) |
平成26年度 公益財団法人JKA 補助
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