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電子・情報関連機器

更新日: 2021年11月18日
 
機器名称 写真 特徴 メーカー・機種 タグ 金額(円/時間)
10m法放射エミッション測定システム 車載機器および大型の電子機器から発生する電磁ノイズの測定が可能 計測評価ソフトウェア：東陽テクニカ
EMIテストレシーバー：Keysight Technologies  N9048B
アンテナ各種：ループ，ラージループ，バイコニカル，ログペリオディック，ホーン
疑似電源回路網：NARDA PMM   L3-32(１台), L2-16B(２台)
 
5500
3m法電波暗室測定システム 電子機器から発生する放射電磁ノイズの測定，及び電子機器の放射電磁ノイズに対する耐性試験が可能 [放射エミッション測定]
（株）TSJ
TEPTO-DV/RE(測定ソフトウェア) 他
[放射イミュニティ試験]
（株）TSJ
TEPTO-EMS-X/RS(試験ソフトウェア) 他
4600
BCI試験システム 車載機器のBCI (Bulk Current Injection)法による伝導イミュニティ試験 （株）東陽テクニカ
IM5/CS(試験ソフトウェア) 他
2000
FEM磁場シミュレータ
  • 試作前に特性の把握が可能
  • 電磁場の可視化が可能
  • 自動メッシュ作成機能
  • 設定パラメータ変更機能
ANSOFT
Maxwell 3D
550
FTB試験装置 IEC61000-4-4、及びJIS C 61000-4-4の電気的ファストトランジェント／バースト(FTB、EFT/B)試験が可能 (株)ノイズ研究所
FTB発生器・三相対応AC/DC電源ポート用CDN　FNS-AX4-B63
マルチコンセントボックス　18-00082A
容量性結合クランプ　15-00012A
ノーマルモード結合バラン　15-00013A
リモート制御ソフトウェア　FNS-AX4 RemoteW
 1000
LCRメータ
  • 低周波数で電子部品の性能指標の周波数特性を測定可能
  • DC バイアス印加が可能（最大±35 V，10 A）
  • より高周波数についてはネットワークアナライザを使用
Hewlett-Packard(HP)社
4285A
 500
TDR装置
  • 高周波伝送線路のインピーダンス分布や反射率を時間領域で測定可能
  • 差動TDR測定で、２本の近接した伝送線路間のコモンモード・インピーダンスが測定可能
Agilent Technologies社
86100B　&　54754A
 700
アンテナ照射試験システム 車載機器，民生機器，医用電気機器の放射イミュニティ試験（放射電波に対する耐性を確認する試験）が可能 試験ソフトウェア：東陽テクニカ
信号発生器：Keysight Technologies　N5171B
パワーアンプ：TESEQ　CBA 1G-1200D　80MHz-1GHz 1200W
パワーアンプ：TESEQ　CBA 6G-200D 1GHz-6GHz　250W
アンテナの種類：スタックドログペリオディック，ダブルリジッドガイド，ホーン
 
4700
インパルスノイズ試験装置 インパルスノイズ試験が可能。 ノイズ研究所
INS-S420(インパルスノイズ試験器)、IJ-AT450(三相CDN)　など
 1000
インピーダンスアナライザ
  • 電子部品の性能指標となる低周波数特性が測定可能
  • 高周波数特性についてはネットワークアナライザを使用
Hewlett-Packard(HP)社
4192A
 500
カー効果顕微鏡 カー効果顕微鏡は磁性材料の磁気特性と密接な関係がある磁区構造を観察する顕微鏡です 。 面内・垂直方向の磁場を変化させながら被測定物に生じる磁区構造と磁区の境界にある磁壁の動きを観察することができる装置です 。 1100
ガウスメータ
  • 30kG（3T） までの磁場測定が可能
  • プローブが1mm厚のため、狭い場所の測定が可能
  • 重さ400gで手のひらサイズ
F.W.BELL
MODEL5080
550
スパッタ装置 真空を保持したまま3種類の材料の薄膜を基板上に成膜可能 芝浦メカトロニクス
CFS-4ES(S)
1200
スピンコータ
  • 試料台に真空吸着してレジストを回転塗布することが可能
ミカサ（株）
1H-D7
 300
デジタルオシロスコープ 電子回路などの電圧波形の観測 Hewlett-Packard(HP)社
54845A
 550
デジタルマルチメータ
  • DC / AC電圧，AC + DC電圧，DC / AC電流，2 / 4端子抵抗，周波数および周期の測定が可能
  • GP-IBによる制御・データ取得も可能
Hewlett-Packard(HP)社
3457A
 500
ネットワークインピーダンスアナライザ
  • スペクトラム測定と解析，ベクトル ・ネットワーク及びインピーダンス測定が可能
  • 独立した 2 つのチャンネルでネットワーク，スペクトラム，インピーダンスの各々の解析が選択可能
Hewlett-Packard(HP)社
4396B
 500
ハイパースペクトルカメラ 100波長以上の分光イメージング撮影が可能 エバ・ジャパン㈱
NH-8，SIS-I
2400
フラックスゲート磁力計
  • 最小分解能10nT（0.1mG）の高感度磁場測定が可能
  • 表示が5桁で広ダイナミックレンジ計測が可能
エムティアイ
FM-1600
550
プリント基板加工装置
  • スピンドル回転数 41,000rpm
  • 一般的なCADソフトからデータ読み込み・書き出しが可能
  • パターン作図・編集が可能なアプリケーション有り
ミッツ(株)
Eleven Lab
 600
ベクトルネットワークアナライザ（Ⅰ） Sパラメータ，誘電率，透磁率の測定 キーサイトテクノロジー社
P5007A
 1800
ベクトルネットワークアナライザ（Ⅱ）
  • Sパラメータ測定を実行可能。
  • シールド特性測定が可能。
Keysight Technologies社
E5071C
 800
ポータブル3Dデジタイザ 大型測定物の短時間での三次元形状計測 クレアフォーム社
ポータブル3Dデジタイザ　HandyScan700
1300
マイクロ波プローバ
  • X -Y-Z、及びX -Y平面方向に回転可能な高精度位置決めステージを搭載
  • X -Y-Z、及びθ（アオリ）方向に回転可能な高性能ポジショナーにより高精度な位置決めが可能
  • ステージ上にポジショナー2台を設置可能
エヌピイエス
GT-1000R
 500
モーダル解析ソフトウェア 実測データによる振動モード解析 ブリュアル&ケアー
I-DEAS Modal
550
リアルタイムスペクトラムアナライザ（Ⅰ）
  • 高周波スペクトラムの測定が可能
  • 最大帯域36 MHzでのリアルタイム解析が可能
Tektronix社
RSA3408A
 500
リアルタイムスペクトラムアナライザ（Ⅱ） 電磁ノイズなどの電気信号の振る舞い（周波数分布，時間推移）をリアルタイムで可視化 Tektronix社
RSA5126B(据置型)，RSA507A(ポータブル型)
 1600
両面マスクアライナー
  • 両面アラインメントを行って紫外線で露光することが可能
ユニオン光学（株）
PEM-800
 700
二次元色彩輝度計 二次元色彩輝度計
  • XYZフィルタと高画素CCDを使用し，各種発光体の輝度分布や色度分布を効率良く測定可能
  • レンズを交換することにより，数cm～1m以上の様々な測定物に対応
コニカミノルタ
CA-2500A
1400
任意波形発生器 様々な種類（波形）の信号を生成 Hewlett-Packard(HP)社
33120A
 550
伝導EMC試験システム 電子機器から発生する伝導性電磁ノイズの測定，及び電子機器の伝導性電磁ノイズに対する耐性試験が可能。 [伝導エミッション測定]
（株）東陽テクニカ
EP10/CE-AJ(測定ソフトウェア) 他
[伝導イミュニティ試験]
（株）テクノサイエンスジャパン(TSJ)
TEPTO-CS(試験ソフトウェア) 他
伝導EMC試験システム
 2000
全光束測定システム 全光束測定システム
  • 直径2mの積分球により，大型の照明器具（直管型蛍光灯であれば1.5mまで）の全光束測定が可能
  • 可視光領域のスペクトル測定，色温度や平均演色評価数の測定が可能
EVERFINE
PMS-80
700
加振システム モーダル解析。製品に振動を与えその振動を計測 Bruel & Kjaer
4809ほか
500
外観検査用AIシステム 与えたデータから学習し，以下の処理を自動で行う ・画像の分類，良否判定 ・特徴領域の検出 ・対象物の検出と分類 ・特徴点の検出 Future Processing 社　Adaptive Vision Studio
1200
多チャンネル電流測定器 複数点の電流，電圧，温度などのデータ計測・収集が可能 Hewlett-Packard(HP)社
34970A
 250
振動データ収集システム 外力による製品の変形・振動データ収集とFFT解析　モーダル解析 Bruel & Kjaer
BK3560C
500
振動試料型磁力計
  • 高感度な磁気特性の測定が可能
  • 薄板，粉末など，様々な形状の試料が測定可能
  • 低磁界域での高精度（磁界）測定が可能
玉川製作所
TM-VSM211483-HGC
2800
振動試験装置 振動試験（正弦波，ランダム波，SOR波）衝撃試験（正弦半波，台形波，のこぎり波，SRS合成波） 複合環境試験用恒温恒湿槽との併用による複合環境試験(-40<T<150℃) 加振軸方向切り替え可能 供試品の底辺５０ｃｍ程度まで対応可能 地震への耐性評価試験には適合しません。 エミック
F-35000BDHH/SLS36MS
2200
測定機能付精密電流・電圧源(ソースメータ) I-V測定などのソース-メジャー測定が可能 Keithley Instruments社
2400
600
熱ナノインプリント装置
  • 最高温度700℃での熱ナノインプリントが可能
  • 大気，真空，窒素雰囲気が選択可能
オリジン電気
Reprina T-50
1500
熱衝撃試験機
  • 供試品に急激な温度差を繰り返し与えることにより，部品や製品の温度変化に対する耐久性評価が可能
  • 低温と高温を切り替える2ゾーン試験と，低温と常温，高温を切り替える3ゾーン試験が実施可能
エスペック（株）
TSA-103-ES-W
600
磁場中熱処理装置 磁場中熱処理装置は，物質材料を磁場中で熱処理する装置です。 磁場の印加により，材料中の磁化の向きや強さ（磁気異方性）を制御したり，内部構造の配向を制御することが可能です。 本装置を用いて，新しい磁性材料の開発や探索が可能になります。 東栄科学産業
TKSRMAO-25305
1300
磁気シールドケース
  • 地磁気などの磁場を遮蔽した環境での計測に利用可能
  • ケーブル孔がありセンサや電子回路の設置が可能
  • 弊所内の弱磁気シールド室で本磁気シールドケースを設置すると、約300 ミリガウスの地磁気が１ミリガウス程度まで遮蔽可能
NECトーキン
特注品
500
紫外線照度計
  • 紫外線の照度と光量が測定可能
  • リアルタイム照度、ピーク照度、積算光量が測定可能
  • 受光部は、セパレート型であるため狭い場所への挿入が可能
ウシオ電機（株）
UIT- 150-A
600
薄膜透磁率測定システム 薄膜透磁率測定システム 薄膜材料の高周波透磁率を測定可能 凌和電子
PMF-3000
550
衝撃試験装置 正弦半波の衝撃試験　比較的高いピーク加速度の衝撃の印加が可能 AVEX
SM-110-MP
 700
複合環境試験用恒温恒湿槽 製品の任意温度下での耐振動性の評価 エミック　VC-102DAMYS(33S)P3TH/V

  • 詳細情報⇒「」(WEB)


 1000
触針式段差計 高精度な表面の凹凸測定 テンコール・インスツルメンツ・ジャパン
ALPHA STEP 500
 650
超低温恒温恒湿槽
  • -70℃から150℃まで温度環境を設定可能
  • 一部の温度条件の下で湿度設定が可能
  • プログラム運転可
  • 通線口から制御線，電源線などを通すことが可能
エスペック（株）
PSL-4J
タバイエスペック
PSL-2KPH
500
車載機器用イミュニティ試験システム 車載機器，医用電気機器の放射イミュニティ試験（放射電波に対する耐性を確認する試験）が可能 放射イミュニティ試験ソフトウェア：東陽テクニカ　VI5/RS-AJ, IM5/CS-AJ
信号発生器：Keysight Technologies　N5171B
パワーアンプ：TESEQ　CBA 400M-260　10kHz-400MHz 30W
パワーアンプ：TESEQ　CBA 1G-030D  1GHz-6GHz　250W
パワーアンプ：TESEQ　CBA 6G-030D 1GHz-6GHz 30W
TEMセル：協立テクノロジー　TTC-502特
ストリップライン：TESEQ  SL50
アンテナ種類：1/4λスリーブ，ヘリカル，モービル，バイコニカル
ループコイル：TESEQ LAS6120,LAS6100
 
3600
車載機器用伝導エミッション測定装置 車載用電子機器のCISPR 25に準拠した伝導エミッション測定が可能 （株）東陽テクニカ
EP9/VE(測定ソフトウェア) 他
1400
車載機器用放射エミッション測定装置 車載用電子機器のCISPR 25に準拠した放射エミッション測定が可能 （株）東陽テクニカ
EP9/VE(測定ソフトウェア) 他
300
車載機器用試験電源 車載機器試験のEMC試験や電源シミュレーションに使用 エヌエフ回路設計ブロック
As-161-30/60
 750
通信プロトコル解析機能付きデジタルオシロスコープ 各種シリアル通信（UART,I2C,SPI,CAN,LIN等）のプロトコル解析 Agilent Technologies
InfiniiVision MSO-X 3054A
550
過渡エミッション測定装置 車載用電子機器の電源投入や電源遮断により発生する電圧過渡現象を評価する、過渡エミッション測定が可能 TESEQ社
SC5501、AN5501、ES5501、MS5501
 1300
過渡サージ試験装置 車両内で発生する様々な過渡的サージ現象に対する車載機器の伝導性イミュニティ試験が可能 （株）ノイズ研究所
Pulse 1/2a発生器 ISS-7610
Pulse 3a/3b発生器 ISS-7630
Pulse 2b/4発生器 BP4610
Pulse 5a/5b発生器 ISS-7650
SLOW Pulse発生器ISS-7610-N1229
制御用ソフトウェア ISS-7601
 1600
酸化・拡散炉 熱酸化シリコン膜の成膜 大和半導体
TM7800-4
2500
雷サージ試験装置 落雷により電力線や電話線に誘導された高エネルギーの雷サージを発生する試験器 （株）ノイズ研究所
LSS-F03
 700
電力増幅器 微小電気信号の増幅のための機器 横河電機（株）
705810
 550
電圧ディップ瞬時電圧変動試験装置 電圧ディップ瞬時停電試験（IEC61000-4-11）が可能。 菊水電子工業（株）
DSI 3020
 750
電圧発生器 高精度の交流電圧・電流を生成する装置 横河電機（株）
2558
 500
電気安全規格試験装置 電気用品安全法などの電気安全規格の各試験（AC/DC耐電圧試験、絶縁抵抗試験、アース導通試験、漏洩電流試験）が可能 菊水電子工業（株）
TOS9303LC
 800
電源ノイズアナライザ
  • 広帯域オシロスコープ(4 GHz)で波形観測可能
  • 基本ベクトル信号解析、デジタル変調解析が可能
  • ノイズ波形、あるいは任意波形を高周波信号発生器で再現可能
Keysight Technologies社
DSOS404A(広帯域オシロスコープ)，M8190A(高周波信号発生器)
 1400
電源周波数磁界イミュニティ試験装置 電源電流の磁界による電子機器の誤動作，故障の発生の有無を確認 磁界発生装置:
narda STS、PMM1008
 1200
電源高調波・フリッカ測定装置 電子機器が電源品質に与える影響を評価 菊水電子工業
ラインインピーダンスネットワーク
LIN3020JF
高調波/フリッカアナライザ
KHA3000
 500
静電気放電イミュニティ試験装置 人体に帯電した静電気の放電による車載機器・電子機器の誤動作，故障の発生の有無を確認 （株）ノイズ研究所
ESS-S3011A
800
非接触レーザ振動計
  • 製品の変形・振動を非接触で測定可能
  • 加速度ピックアップが取り付けられないような超軽量・高温・回転体の振動測定が可能
  • 測定点には赤いレーザースポットが当たるため、測定の位置決めが非常に簡単
ブリュアル&ケアー
8338
500
非接触画像光学式三次元デジタイザ（FLARE） 全周囲３次元形状計測による製品検査・評価および設計参照用データの取得 東京貿易テクノシステム㈱ FLARE Pro 16M
2800
顕微鏡式薄膜測定装置 非接触，非破壊での膜厚測定 フィルメトリクス
F40
600
顕微鏡機能付き赤外線サーモグラフィ
  • 物体の表面温度分布を非接触で測定可能
  • 温度変化の様子を動画で記録可能
NEC Avio 赤外線テクノロジー
TVS-500EX
550
高周波電磁界解析シミュレータ
  • 高周波デバイス、伝送線路の設計が可能
  • アンテナの設計が可能
  • Optimetrics を用いて、デバイスパラメータを最適化
  • 複雑形状の回路&素子が有するLCRパラメータを抽出可能
アンソフト（株）
HFSS 及びQ3D
750
高性能信号発生器 変調出力(AM / FM / PM)が可能な高周波信号を発生できる装置 アンリツ（株）
MG3633A
 500
高速電力増幅器
  • 電気信号の電力を増幅して、大きな電圧と電流を出力するための増幅器
  • 被測定物に任意波形の電力を供給する試験等に利用可能
  • ファンクションジェネレータ、任意波形発生器等と組み合わせて利用することで，様々な試験が可能
（株）エヌエフ回路設計ブロック
4015
600

お問い合わせ

宮城県産業技術総合センター　企画・事業推進部　基盤技術高度化支援班
TEL:022-377-8700
相談受付フォーム
E-mail: soudan-itim@pref.miyagi.lg.jp