更新日: 2024年3月22日
微小部蛍光X線分析装置(μ-XRF)
特徴
大気・真空で試料をそのまま測定
試料を破壊・汚染せずに分析
炭素までの軽元素を分析
分析例
金属・樹脂上の微小異物分析
薄膜の膜厚分析
波長分散型蛍光X線分析装置(WDXRF)
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)
お問い合わせ
宮城県産業技術総合センター
担当：企画・事業推進部 企画・知財班
TEL:022-377-8700
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E-mail: itim-p@pref.miyagi.lg.jp