更新日: 2024年3月22日
X線光電子分光分析装置(XPS-Nexsa)
特徴
ナノレベルの表面分析
深さ方向分析、角度分解測定
Arガスクラスターイオンエッチング
分析例
加湿器中のカルキ表面の分析
金属粉末の表面分析
単Arエッチングによる深さ方向分析
お問い合わせ
宮城県産業技術総合センター
担当:企画・事業推進部 企画・知財班
TEL:022-377-8700
相談受付フォーム
E-mail: itim-p@pref.miyagi.lg.jp
ナノレベルの表面分析
深さ方向分析、角度分解測定
Arガスクラスターイオンエッチング
加湿器中のカルキ表面の分析
金属粉末の表面分析
単Arエッチングによる深さ方向分析
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担当:企画・事業推進部 企画・知財班
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