更新日: 2023年2月17日
近年，ナノテクノロジーの発展を背景に，サブミクロン～ナノ領域を対象とした分析・評価技術として小角X 線散乱（SAXS）の有用性が再認識されている。SAXS は工業・食品分野等の幅広い分野での研究開発において，今や欠かせない分析手法である。しかし，SAXS 測定結果の解析やその解析結果の解釈は必ずしも容易とはいえず，当センターにおける研究開発や県内企業への技術支援業務においてSAXS が普及するに至っていない。そこで本調査では職員個々人の解析技術の向上及び，ナノ材料評価におけるSAXS の有用性調査を目的として，金ナノ粒子のSAXS 測定, 及び各種解析を行い，透過型電子顕微鏡（TEM）による観察結果と比較した。その結果，各金ナノ粒子のSAXS の解析結果とTEM の観察結果は概ね良く一致した。
【先端技術等調査研究事業 令和３年度】
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